CCIT真空衰減法密封檢漏儀
簡(jiǎn)要描述:CCIT真空衰減法密封檢漏儀,濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器研發(fā)生產(chǎn)的CCIT密封性測(cè)試儀LEAK-S采用真空衰減法原理,基于雙傳感技術(shù),采用非破壞性檢測(cè)方法對(duì)成品包裝進(jìn)行泄漏檢測(cè),測(cè)試后樣品無(wú)損傷不影響正常使用,測(cè)試成本低,產(chǎn)品包裝完成完整性試驗(yàn)之后仍然可以正常使用,滿足ASTM F2338《使用真空衰變法無(wú)損檢驗(yàn)包裝緊密性的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法》、USP 1207等。
產(chǎn)品型號(hào):
所屬分類(lèi):微滲漏測(cè)試儀
更新時(shí)間:2024-06-26
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
CCIT真空衰減法密封檢漏儀
CCIT,英文全稱為Container Closure Integrity Test,又稱容器密封性,顧名思義就是檢查容器(內(nèi)包材)的密封性(完整性,泄漏情況)。
容器密封性測(cè)試方法
容器密封性測(cè)試分為物理的(Physical CCIT)和微生物測(cè)試(Microbial CCIT)。測(cè)試方法包括常見(jiàn)的亞甲基藍(lán)染色,色水法,真空衰減,激光,微生物侵入法等等。方法選擇時(shí),需考慮各種因素,如包裝本身、包裝內(nèi)容物、密封組件的匹配、方法本身的特點(diǎn)、檢出限等。
濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器研發(fā)生產(chǎn)的CCIT密封性測(cè)試儀LEAK-S采用真空衰減法原理,基于雙傳感技術(shù),采用非破壞性檢測(cè)方法對(duì)成品包裝進(jìn)行泄漏檢測(cè),測(cè)試后樣品無(wú)損傷不影響正常使用,測(cè)試成本低,產(chǎn)品包裝完成完整性試驗(yàn)之后仍然可以正常使用,滿足ASTM F2338《使用真空衰變法無(wú)損檢驗(yàn)包裝緊密性的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法》、USP 1207等。
測(cè)試原理
將CCIT密封性測(cè)試儀主機(jī)連接到一個(gè)特別設(shè)計(jì)用來(lái)容納需要被測(cè)物的測(cè)試腔內(nèi)。儀器對(duì)測(cè)試腔進(jìn)行抽真空,包裝物內(nèi)外形成壓力差,在壓力的作用下包裝物內(nèi)氣體通過(guò)漏孔擴(kuò)散至測(cè)試腔內(nèi),雙傳感器技術(shù)檢測(cè)時(shí)間和壓力的變化關(guān)系,與標(biāo)準(zhǔn)值(建立的數(shù)學(xué)模型)進(jìn)行比較,從而判斷試樣是否泄漏。
技術(shù)參數(shù)
真空度:0--100kPa
檢測(cè)孔徑精度:<5μm
設(shè)備操作:自帶HMI
內(nèi)部壓力:常壓
測(cè)試系統(tǒng):真空傳感器技術(shù)
真空來(lái)源:外接真空泵
測(cè)試腔:根據(jù)樣品定做
檢測(cè)原理:真空衰減法/無(wú)損檢測(cè)
主機(jī)尺寸:500mmX360mmX320mm(長(zhǎng)寬高)
重 量:18Kg
環(huán)境溫度:20℃-30℃
相對(duì)濕度:≤80%,無(wú)凝露
工作電源:220V
技術(shù)特征
1、CCIT密封性測(cè)試儀針對(duì)不同檢測(cè)樣品可選配對(duì)應(yīng)的測(cè)試腔,用戶可輕松更換,在滿足更多種類(lèi)樣品的情況下,盡量減少用戶費(fèi)用開(kāi)支,使儀器具備要有較好的檢測(cè)適應(yīng)性;
2、適用于檢測(cè)微小漏孔,也可以鑒別大漏孔樣品,并給出合格與不合格的判斷;
3、采用非破壞性檢測(cè)方法對(duì)成品包裝進(jìn)行泄漏檢測(cè),測(cè)試后樣品無(wú)損傷不影響正常使用,測(cè)試成本低;
4、測(cè)試結(jié)果非主觀性判斷,無(wú)需人工參與,保證數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性與客觀性;
5、儀器配備R232串口,支持?jǐn)?shù)據(jù)局域網(wǎng)傳輸,并具備ISP在線升級(jí)功能,滿足客戶個(gè)性化要求。
CCIT真空衰減法密封檢漏儀
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