高精度薄膜測厚儀
簡要描述:三泉中石高精度薄膜測厚儀CHY-U采用機(jī)械式測量方法,適用于塑料薄膜量程范圍內(nèi)各種材料的精確厚度測量,選擇濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器有限公司,就是選擇放心!
產(chǎn)品型號:
所屬分類:薄膜測厚儀
更新時(shí)間:2024-05-28
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
三泉中石高精度薄膜測厚儀CHY-U采用機(jī)械式測量方法,適用于塑料薄膜量程范圍內(nèi)各種材料的精確厚度測量。
儀器優(yōu)勢:
(1)采用專業(yè)優(yōu)質(zhì)傳感器,測厚分辨率高達(dá)0.1微米選用優(yōu)質(zhì)傳動元件,確保了試驗(yàn)結(jié)果的穩(wěn)定性與準(zhǔn)確性。
(2)大液晶屏顯示,操作簡便,配備微型打印機(jī)直接打印試驗(yàn)報(bào)告。
(3)另外具有電腦通信接口,通過選購軟件實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的存儲、查詢、打印;
(4)軟件功能強(qiáng)大,可將成組試驗(yàn)數(shù)據(jù)用柱形圖或列表方式進(jìn)行統(tǒng)計(jì),試結(jié)報(bào)告可直接在局域網(wǎng)或廣域網(wǎng)中進(jìn)行傳輸。
高精度薄膜測厚儀主要參數(shù):
儀器型號:CHY-U
生產(chǎn)單位:濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器有限公司
測量范圍:0-2mm (其他量程可定制)
分辨率 :0.1um
測量速度:10 次/分(可調(diào))
測量壓力:17.5±1kPa(薄膜);100±1kPa(紙張)
接觸面積:50mm2(薄膜),200mm2(紙張) 注:薄膜、紙張任選一種
進(jìn)樣步矩:0 ~ 1300 mm(可調(diào))
進(jìn)樣速度 :0 ~ 120 mm/s(可調(diào))
外形尺寸:450mm×340mm×390mm
重量:23k
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374等多項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)
應(yīng)用范圍:
(1)用于薄膜、電池隔膜、電容薄膜材料等軟質(zhì)材料厚度精確測量。
(2)對金屬箔片等硬質(zhì)材料厚度精確測量。
(3)接觸式測試原理更有效的檢測出太陽能硅片上每個(gè)點(diǎn)的厚度值
(4)通過調(diào)節(jié)測量頭可完整紙張規(guī)定的壓力和面積,完整各種紙張、紙板材料厚度測試。
濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器有限公司擁有先進(jìn)的檢測技術(shù)、包裝檢測設(shè)備與專業(yè)實(shí)驗(yàn)室,致力于為行業(yè)客戶提供全面、*的包裝質(zhì)量控制解決方案,檢測儀器三泉中石!
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