真空衰減包裝檢漏儀/產(chǎn)品介紹

發(fā)布時(shí)間： 2024-03-18　　點(diǎn)擊次數(shù)： 332次

真空衰減法原理：

基于真空傳感技術(shù)，具體測(cè)試過(guò)程，將leak-S微泄漏密封測(cè)試儀主機(jī)連接到一個(gè)特別設(shè)計(jì)用來(lái)容納需要被測(cè)物的測(cè)試腔內(nèi)。儀器對(duì)測(cè)試腔進(jìn)行抽真空，包裝物內(nèi)外形成壓力差，在壓力的作用下包裝物內(nèi)氣體通過(guò)漏孔擴(kuò)散至測(cè)試腔內(nèi)，真空傳感器技術(shù)檢測(cè)時(shí)間和壓力的變化關(guān)系，與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較，從而判斷試樣是否泄漏。

真空衰減法在測(cè)定具有較低黏度的產(chǎn)品包裝時(shí)，檢測(cè)是有效、可靠和可重復(fù)的，如果產(chǎn)品具有不阻擋泄漏點(diǎn)氣流的固體配方，或者它是在測(cè)試真空下?lián)]發(fā)的液體產(chǎn)品，則可以測(cè)試產(chǎn)品填充水平以下的包裝表面是否有泄漏。

包裝的體積從幾毫升到幾升可以測(cè)試。測(cè)試需要從幾秒鐘到幾分鐘的時(shí)間。較長(zhǎng)的測(cè)試時(shí)間對(duì)于測(cè)試更大容量的包是必要的。延長(zhǎng)測(cè)試周期以允許檢測(cè)較小的泄漏。測(cè)試可以在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中進(jìn)行，或者在生產(chǎn)環(huán)境中離線進(jìn)行。允許較長(zhǎng)測(cè)試時(shí)間的實(shí)驗(yàn)室或離線測(cè)試設(shè)備通常能夠檢測(cè)較小的泄漏。更高速度的在線設(shè)備通常用于檢測(cè)較大的泄漏。真空衰減泄漏測(cè)試在產(chǎn)品生命周期的各個(gè)階段都是有用的。

真空衰減包裝檢漏儀由管道和閥門(mén)系統(tǒng)組成，這些管道和閥門(mén)將測(cè)試室與測(cè)試系統(tǒng)壓力傳感器和外部真空源氣動(dòng)連接。該儀器包括適當(dāng)?shù)亩〞r(shí)器，電子控制和監(jiān)視器。還可以包括外部氣體流量計(jì)，用于周期性驗(yàn)證系統(tǒng)性能。測(cè)試室設(shè)計(jì)得，能夠緊密地容納測(cè)試封裝，并且可以適當(dāng)?shù)匮b配有工具以限制可移動(dòng)或柔性封裝組件的移動(dòng)或膨脹。