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微泄漏密封性測(cè)試儀-數(shù)據(jù)可追溯

發(fā)布時(shí)間: 2024-01-04  點(diǎn)擊次數(shù): 280次

微泄漏密封性測(cè)試儀-數(shù)據(jù)可追溯

真空衰減是一種無(wú)損、定量的檢測(cè)非多孔、剛性或柔性包裝泄漏的方法。具有多孔成分的包裝,例如具有多孔蓋材料的托盤,也可以通過掩蔽多孔包裝成分的真空衰減來(lái)測(cè)試。

為了進(jìn)行測(cè)試,首先將測(cè)試樣品放置在與泄漏測(cè)試系統(tǒng)氣動(dòng)連接的緊密配合的排放測(cè)試室中,泄漏測(cè)試系統(tǒng)配備有外部真空源。測(cè)試室必須設(shè)計(jì)成包含測(cè)試包。帶有可移動(dòng)或柔性部件的測(cè)試樣品需要適當(dāng)?shù)墓ぞ邅?lái)分別限制這些部件的移動(dòng)或膨脹。具有多孔組分的樣品需要掩蔽多孔材料。在測(cè)試開始時(shí),將測(cè)試室加上測(cè)試系統(tǒng)死區(qū)排空一段預(yù)定的時(shí)間。

測(cè)試所選擇的目標(biāo)真空度是根據(jù)評(píng)估的測(cè)試樣本類型預(yù)先確定的。然后將真空源與測(cè)試系統(tǒng)隔離。

短暫系統(tǒng)平衡之后,使用絕對(duì)或差壓傳感器在預(yù)定的時(shí)間長(zhǎng)度內(nèi)監(jiān)測(cè)腔體內(nèi)壓力的上升(即,真空衰減)。超過使用負(fù)控制建立的預(yù)定通過/失效極限的壓力增加表明容器泄漏。可參考ASTM F2338。          

應(yīng)用

1. 可測(cè)試無(wú)孔、剛性或柔性包裝,或具有多孔部件的包裝。

2. 可以測(cè)試包含氣體、液體和/或固體材料的包裝:當(dāng)暴露于測(cè)試真空條件時(shí),具有非固定部件的柔性包裝或包裝需要工具來(lái)分別限制包裝的膨脹或移動(dòng)。工具化使柔性封裝密封應(yīng)力最小化,并保持在泄漏路徑上的一致的封裝體積和壓差條件。   

帶有多孔成分的包裝可以通過使用特殊工具或阻塞輔助物來(lái)掩蔽多孔成分來(lái)測(cè)試,以使穿過多孔成分的氣流最小化。氣體頂空必須在大氣壓下或在顯著大于測(cè)試真空條件的壓力下。  

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技術(shù)參數(shù)

指標(biāo)     參數(shù)

真空度     0--100kPa

檢測(cè)孔徑精度 3μm

設(shè)備操作 自帶HMI

內(nèi)部壓力 常壓

測(cè)試系統(tǒng) 真空傳感器技術(shù)

真空來(lái)源 外接真空泵

測(cè)試腔     根據(jù)樣品定做

檢測(cè)原理 真空衰減法/無(wú)損檢測(cè)

主機(jī)尺寸 500mmX360mmX320mm(長(zhǎng)寬高)

        18Kg

環(huán)境溫度 20-30

相對(duì)濕度 80%,無(wú)凝露

工作電源 220V


微泄漏密封性測(cè)試儀-數(shù)據(jù)可追溯

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